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平成24回第1回
試験種別:線路
試験科目:通信線路

問題
解答


問1

(1)(ア)分布(イ)伝搬(ウ)減衰(エ)位相
(2)(i)
\:
∪:
正:
じ:漏話減衰量は、被誘導回線の漏話電力と、誘導回線の送端電力の比の対数で表され、漏話電力(漏話量)が大きいほど漏話減衰量は小さく、漏話電力が小さいほど漏話減衰量は大きい。

(2)(ii)
A誤:増幅器などにおいて、導体中の自由電子の熱的じょう乱運動により発生する雑音は、「熱雑音」と言われる。
B正:
C正:

(3)(i)
仝:光ファイバ中を伝搬する光パルスの幅が「広まる」現象を、分散という。
∪:
8:各モードの伝搬速度が「異なる」ため、隣接するパルス間隔をあまり小さくできない
じ:「シングル」モード光ファイバのゼロ分散波長や分散スロープを制御して製作された光ファイバは、総称して分散制御光ファイバといわれる。
・分散制御光ファイバ:シングルモードが対象
低分散1.31μm
低損失1.55μm
分散シフト光ファイバゼロ分散波長を1.31μmから1.55μmにシフトさせた光ファイバ
分散補償光ファイバ既存の1.31μmゼロ分散光ファイバを使用して、1.55μmの通信光を伝送したい場合、増加した波長分散を補償するための光ファイバ

(3)(ii)
仝:希土類イオン間でエネルギー移動が起こることがあり、光ファイバの「増幅率」が変動する。
∪:
正:
だ:

問2

(1)(ア)分極(イ)1MW/cm^2(ウ)散乱(エ)音響的
(2)(i)
\:
∪:
正:
じ:誘導ブリルアン散乱は、後方散乱が強く発生する。

(2)(ii)
A正:
B正:
C正:

(2)(iii)
\:
誤:回折格子部の温度を電流やヒーターなどで変化させることで半導体の「屈折率」を変え、回折格子の波長選択性を変更する。
正:
だ:

(2)(iV)
仝: p形と n 形の半導体から構成される pn ダイオードに,insu‑lator を挟んだものが pin ダイオードである.
   実際には,i 領域の不純物濃度が両側の p,n 領域よりも数桁以下の構造となっている.
誤:増倍率は、印加する逆電圧を大きくすることで出力を得るが、雑音も増える。
8:印加する逆電圧に比例するので、大きくすると大きくなる。
だ:

問3

(1)(ア)受光素子(イ)屈折率(ウ)ペルチェ(エ)誘電体多層膜
(2)(i)
\:
誤:材料分散は波長に対して急な勾配を持っているため、構造分散パラメータが波長に対して「平坦でない」特性を持った構造となるものが用いられる
正:
だ:

(2)(ii)
A誤:増幅帯域幅が狭い。添加物に依存する。
B正:
C正:

(2)(iii)
仝:EDFAは,C帯(1530‑1565 nm)中の1530‑1560 nmの波長域,もしくはL帯(1565‑1625 nm)中の1570‑1600 nmの波長域に高利得・低雑音な増幅特性を有している。
誤:クラッドではなく、コアに添加する。
正:
じ:平坦でない増幅利得が得られる。

(2)(vi)
仝:増幅信号光-ASE間のビート雑音は、光フィルタでは、除去できない。
誤:NF=SNRin/SNRout
正:
じ:雑音特性に優れる前方励起システム、出力特性に優れる後方励起システム。

問4

(1)
(ア)平均化(イ)群屈折率(ウ)反射減衰量(エ)1.5
OTDRの測定におけるデッドゾーン
反射測定デッドゾーンフレネル反射のピークレベルから1.5[dB]での幅をいう。
損失測定デッドゾーン光コネクタ接続箇所からフレネル反射の影響による応答波形で、真値から±0.5[dB]以下のレベルの箇所までの接続損失などが測定できない幅

(2)(i)オ
\:
誤:GeO2(ゲルマニア) が添加された光ファイバーのコアに波長223〜253 nm の「紫外線(UV) レーザー光を照射する」と、光誘起屈折率変化(Si-O 結合の変化に起因) により屈折率が半永続的に変化する。
正:
だ:

(2)(ii)カ
A誤:分子密度の揺らぎによる散乱は波長の4乗に反比例し、この散乱はレイリー散乱と言われる。
B誤:波長が短くなると「SiO2の電子のバンド間遷移による紫外吸収」が主な要因となり、波長が長くなると赤外のSiO2の分子振動による「赤外吸収」が主な要因となる。
C正:曲がりが発生→入射角<臨界角全→全反射しない→一部の光が外へ放射される。→曲げ損失となる。

(2)(iii)キ
仝:L = τν/2で算出することができる。
∪:
8:カットバック法と比較すると、精度は低い測定となる。挿入損失法は、精度は劣るものの、切断の必要がない。
じ:光ファイバごとの「減衰量」のばらつきを補償するため・・・

(2)(vi)
仝:周波数領域での測定方法の方が、波形ひずみの影響を受けず高精度の測定が可能である。
∪:
8:干渉法は可干渉光源(スーパーコンティニューム光などの広帯域光源)を用い、参照光路と被測定ファイバーを含む測定光路からなるマッハツェンダ干渉系を構成し、出力の干渉パターンから波長ごとの遅延時間を測定する方法
じ:θ=2πfl/τ

問5

(1)
(ア)HFC(イ)多重化装置(ウ)ADS(エ)需要密度
配線法の基本形態の適用には、

需要動向
需要密度
土木設備の有無
保守性
信頼性
経済性などを総合的に勘案

(2)(i)オ
\:
∪:
正:
じ:・・・算出される伝送損失より「大きく」なければならない。(最大許容伝送損失>実際の伝送損失)

(2)(ii)カ
A正:
B誤:架空区間であっても直線部の張力増加率は無視できない。
C正:

(2)(iii)
T1:X点の張力 とすると、Y点でのT=(T1+gμLW)K

T=(1000+10*0.5*100*0.45)*2.2
 =(1000+225)*2.2
 =1225*2.2=2695 ・・・

技術資料

(2)(vi)
仝蹇分散けん引方式の説明。
∪機
正:
だ機

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