装置名
アルファベット順
測定系
| 略称 | 英語 | 日本語 |
|---|---|---|
| AFM | Atomic Force Microscope | 原子間力顕微鏡 |
| CV | Cyclic Voltammetry | サイクリックボルタンメトリー |
| DLS | Dynamic Light Scattering | 動的光散乱光度計 |
| DMA | Dynamic Mechanical Analysis | 動的粘弾性測定装置 |
| DSC | Differential Scanning Calorimetry | 示差走査熱量計 |
| EDX | Energy Dispersive X-ray spectrometer | エネルギー分散型蛍光X線分析装置 |
| FL | FluoroLuminescence spectrometer | 分光蛍光光度計 |
| FT-IR | Fourier Transform InfraRed spectrometer | フーリエ変換赤外分光光度計 |
| FT-Raman | Fourier Transform Raman spectrometer | フーリエ変換ラマン分光計 |
| GC/MS | Gas Chromatography / Mass Spectrometry | ガスクロマトグラフ質量分析装置 |
| - | Karl Fischer titration | カールフィッシャー水分測定（滴定） |
| LC/MS | Liquid Chromatography / Mass Spectrometry | 液体クロマトグラフ質量分析装置 |
| MALDI-TOF-MS | Matrix-Assisted Laser Desorption/Ionization Time Of Fright Mass Spectrometry | マトリックス支援レーザー脱離イオン化質量分析 |
| MFM | Magnetic Force Microscope | 磁気力顕微鏡 |
| MRI | Magnetic Resonance Imaging | 核磁気共鳴画像法 |
| NMR | Nuclear Magnetic Resonance (spectroscopy) | 核磁気共鳴(装置) |
| SEM | Scanning Electron Microscope | 走査型電子顕微鏡 |
| SQUID | Superconducting QUantum Interference Device | 超伝導磁束量子干渉計 |
| TEM | Transmission Electron Microscope | 透過型電子顕微鏡 |
| TOF-MS | Time Of Fright Mass Spectrometry | レーザイオン化飛行時間型質量分析装置 |
| TGA | ThermoGravimetric Analysers | 熱重量分析装置 |
| UV-Vis(-NIR) | UltraVioret-Visible(-Near InfraRed) Spectrometer | 紫外可視（近赤外）分光光度計 |
| XPS | X-ray Photoemission (Photoelectron) Spectroscopy | X線光電子分光法 |
| XRD | X-Ray Diffractometer | X線回折装置 |
| XRF | X-Ray Fluorescence analysis | 蛍光X線分析装置 |
分離系
| 略称 | 英語 | 日本語 |
| HPLC | ||
| GC | ||
| GPC |
2010年03月19日(金) 11:33:25 Modified by sunaxlab